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            首頁 > 產品中心 > 日本電子JEOL > 電子光學設備——掃描電鏡> > JSM-IT800日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡

            日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡

            簡要描述:日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析,能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發射電子槍、新一代電子光學控制系統Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。

            • 產品型號:JSM-IT800
            • 廠商性質:代理商
            • 更新時間:2024-03-05
            • 訪  問  量:1577
            詳情介紹
            品牌其他品牌產地類別進口
            儀器種類熱場發射應用領域環保,化工,能源,電子

            日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡特性

            JSM-IT800 整合了我們用于從高分辨率成像到快速元素分析的“浸沒式肖特基 Plus 場發射電子槍"、創新的電子光學控制系統“Neo Engine"以及無縫 GUI 系統“SEM Center",該系統采用一體化 JEOL X 射線能量色散譜儀 (EDS) 作為通用平臺,進行快速元素分析。


            JSM-IT800 允許物鏡作為一個更換模塊,提供不同的版本以滿足各種用戶需求。JSM-IT800 有五種版本,提供不同的物鏡:混合型物鏡 (HL),這是一種通用 FE-SEM;超級混合物鏡(SHL/SHLs,具有不同功能的兩種版本),可實現更高分辨率的觀察和分析;以及新開發的半浸沒式物鏡(i/is,具有不同功能的版本),適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。


            此外,JSM-IT800 還可以配備新型閃爍體背散射電子探測器 (SBED) 和多功能背散射電子探測器 (VBED)。SBED 支持以高響應性獲取圖像,即使在低加速電壓下也能產生清晰的成分襯度,而 VBED 可以幫助獲取 3D、形貌和成分襯度的圖像。因此,JSM-IT800 可以幫助用戶獲取豐富多樣德 信息并解決測量中的問題。

            日本JEOL 熱場發射掃描電子顯微鏡


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